最新产品——Hot Disk法导热系数测试仪

我司自主研发，设计，制造的最新产品-Hot Disk法导热系数测试仪正式面市！

DRE-2C导热系数测试仪（瞬态平面热源法）

DRE-2C导热系数测试仪采用瞬态平面热源法，主要测量固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数、导温系数（热扩散系数）和比热。本仪器基于TPS瞬态平面热源技术，用Hot Disk作为探头的导热系数测定仪。Hot Disk法的优点有：(1)直接测量热传播，可以节约大量的时间；(2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响；(3)无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面。

 主要技术指标：

1、导热系数测定范围：0.01—100W/mk

2、测量时间：1-600秒

3、准确度：优于5％

4、温度范围：标准测量：室温，（可根据客户要求选配各种温度段的测试温度，费用另计：如-20℃～120℃）

5、样本尺寸：大于15mm高，大于直径45mm相对平整的样品表面